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日本日置IM3570阻抗分析儀
日本日置IM3570阻抗分析儀1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查
1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
日本日置IM3570阻抗分析儀LCR模式下*快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
基本精度±0.08%的高精度測量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
主機不標(biāo)配治具。請根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。
日本日置IM3570阻抗分析儀
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測量模式 |
LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續(xù)測量 |
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測量參數(shù) |
Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
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測量量程 |
100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定） |
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顯示范圍 |
Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示**值 |
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基本精度 |
Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
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測量頻率 |
4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進(jìn)） |
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測量信號電平 |
V模式，CV模式（普通模式） |
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輸出阻抗 |
普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω |
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顯示 |
彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示ON/OFF |
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測量時間 |
0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值） |
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測量速度 |
FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
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其他功能 |
DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能 |
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接口 |
EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN |
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電源 |
AC90~264V，50/60Hz，*大150VA |
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打印 |
拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446） |
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接口 |
GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標(biāo)準(zhǔn)) |
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電源 |
AC90~264V，50/60Hz，*大150VA |
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體積和重量 |
330W×119H×307Dmm，5.8kg |
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附件 |
電源線×1，使用說明書×1，通訊手冊×1 |
